日本EDDIO處理的無損檢測技術(shù)說明

EDDIO處理的無損檢測技術(shù)

關(guān)于渦流測試（ECT）

渦流探傷檢查在JIS Z 2316中說明如下。

定義

一種測試方法，可利用試件中產(chǎn)生的渦流變化來評估劃痕，厚度，形狀，材料等。

原理

渦流測試基于導(dǎo)體中電流的感應(yīng)。測量和分析的量與感應(yīng)電流的分布有關(guān)。由于它是由交流電激發(fā)的，因此測量量由復(fù)平面中的矢量量表示。
渦流在材料深度方向上的分布受物理定律控制，并且電流密度隨著深度的增加而顯著降低。減少的方法由深度的指數(shù)函數(shù)表示。

影響測量的項(xiàng)目

1. 材料電導(dǎo)率
2. 材料滲透率
3. 測試產(chǎn)品的尺寸和形狀
4. 渦流測試探頭與測試產(chǎn)品之間的幾何關(guān)系
   →通過在復(fù)雜平面上顯示測量值可以獲得更詳細(xì)的信息。

優(yōu)點(diǎn)

1. 無需接觸產(chǎn)品即可使用。
2. 它可以在沒有接觸介質(zhì)（例如水）的情況下使用。
3. 可以進(jìn)行高速測試

（根據(jù)JIS Z 2316）

實(shí)用功能如下

1. 可以將檢查結(jié)果作為電氣輸出獲得，因此可以自動進(jìn)行檢查
2. 檢查速度快，因?yàn)榭梢圆唤佑|而進(jìn)行檢查
3. 無需檢查的前處理或后處理
4. 檢查部位被限制在某種程度上簡單的形狀

漏磁漏磁通測試（MLFT）

漏磁通探傷試驗(yàn)的原理在JIS Z 2319的初稿中說明如下。

原理

當(dāng)用磁化器將鐵磁測試件磁化并且測試體具有諸如刮擦之類的不連續(xù)性時(shí)，磁通量泄漏到測試體的外部。在漏磁通探傷試驗(yàn)方法中，通過磁傳感器來測量從缺陷漏出的磁通的分布和強(qiáng)度，以檢測缺陷。漏磁通探傷測試方法因?yàn)椴慌c試件接觸并可以進(jìn)行高速測試，所以適合于鋼鐵材料等生產(chǎn)線的檢查，機(jī)械零件的檢查以及鋼絲繩的維護(hù)檢查。這是一種非破壞性的測試方法。　
（摘自JIS Z 2319修訂草案）

除了不受電導(dǎo)率的影響外，影響測量的所有項(xiàng)目，強(qiáng)度和實(shí)用功能與渦流探傷測試均無顯著差異。

但是，由于材料被磁化并檢測到缺陷，因此不能應(yīng)用于非磁性材料。

影響測量的項(xiàng)目包括以下內(nèi)容

1. 材料滲透率
2. 測試產(chǎn)品的尺寸和形狀
3. 渦流測試探頭與測試產(chǎn)品之間的幾何關(guān)系
   →通過在復(fù)雜平面上顯示測量值可以獲得更詳細(xì)的信息。

相對于其他檢查方法的優(yōu)點(diǎn)如下

1. 無需接觸產(chǎn)品即可使用。
2. 它可以在沒有接觸介質(zhì)（例如水）的情況下使用。
3. 可以進(jìn)行高速測試

就實(shí)際使用而言，它具有與渦流探傷檢查相同的特性

1. 可以將檢查結(jié)果作為電氣輸出獲得，因此可以自動進(jìn)行檢查
2. 檢查速度快，因?yàn)榭梢圆唤佑|而進(jìn)行檢查
3. 無需檢查的前處理或后處理
4. 檢查部位被限制在某種程度上簡單的形狀

渦流探傷（ECT）與漏磁通探傷（MLFT）的區(qū)別和特性

下表比較了渦流探傷（ECT）和漏磁通探傷（MLFT）與其他表面探傷方法的區(qū)別和特性。