日本SNK表面附著異物可視化技術

日本SNK表面附著異物可視化技術

可視化技術，用于觀察粘附在表面的細小顆粒，異物或污垢

通過使用細顆粒可視化技術，可以高靈敏度地檢測出光滑表面上的顆粒。另外，通過可視化由于顆粒成分引起的熒光，可以每天處理表面異物和污垢。

如何使用散射光

高靈敏度粒子可視化技術是一種捕獲運動粒子的散射光的技術。當產品以高靈敏度移動時，可以使用相同的原理檢測表面上的異物或微弱的散射光。當使用激光時，它只能應用于光滑的產品，但是例如對于膠片，也可以通過可視化檢測張緊的位置。

 如何一起使用熒光

附著在表面上的異物和污垢可能會使該組件發出的熒光返回。為了澄清熒光色，有必要設計要照射的光，但是如果使用特殊的濾光片將散射光切斷，則表面上的異物將非常鮮艷且易于觀察。無論表面光滑度如何，此方法都可以在光線到達時可視化。可以免費租用“ D Light”（約2天）。請借此機會嘗試一下。

利用表面粒子可視化技術的z佳解決方案

• “ D Light”，一種工具，可以更容易地從表面的異物和污垢中看到熒光色。
• “ D-scope”，一種可以捕獲微弱的熒光并分析各種細顆粒信息并將其轉換為數據的工具。
• “ Parallel Eye F”是一種相對容易設置在要可視化的表面上的光源。
• 可視化寬而光滑產品表面的z佳光源是“ Parallel Eye H”。
• “ Parallel Eye D”是可視化不平坦表面并使熒光更加突出的z佳光源。
• 具有專yong于微粒檢測的靈敏度和功能的超高靈敏度相機是專yong的超高靈敏度相機“ Eyescope”。
• 圖像處理包“ Particle Eye”可在PC上實時處理和錄制視頻
• 當您要使用細顆粒可視化系統解決生產環境中的緊急問題時，可以提供現場評估服務
• 在產品開發和公共關系等地點使用細顆粒可視化系統時的產品開發/公共關系支持服務