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日本snk細(xì)顆粒可視化技術(shù)
ViEST 通過追求寬大的靈敏度特性不斷更新最高靈敏度，以便在現(xiàn)場的各種限制下可視化細(xì)顆粒。那就是“細(xì)顆粒可視化技術(shù)"。
下圖根據(jù)米氏散射理論公式繪制了散射光強(qiáng)度與粒徑的關(guān)系圖。可以看到橫軸變化了2位數(shù)，縱軸變化了6位數(shù)。我們利用并銷售一種超靈敏系統(tǒng)，該系統(tǒng)已成功在暗室中可視化 80 nm 細(xì)顆粒以進(jìn)行實(shí)驗，這也在此圖表之外。
散射光強(qiáng)度與粒徑的關(guān)系
20多年來，我們繼承了專業(yè)的技術(shù)人員，他們在客戶的制造和開發(fā)現(xiàn)場進(jìn)行了800多次拍攝和評估的記錄。如果你問你想可視化什么樣的細(xì)顆粒，只有一個技術(shù)組有可靠的答案。
